测试与可靠性
芯片造出来要证明它能用、能一直用。测试覆盖从晶圆级 CP 到成品 FT 的量产环节，可靠性研究器件和电路的退化机制。这是数字验证之外另一大就业岗位类别，模拟/射频岗位尤其看重。数字侧的功能验证（SV/UVM）见数字验证槽位。
graph LR
A["模拟电路测试原理 ICSE30003"]
B["模拟测试原理与电路设计 ICSE30033"]
C["射频微波测试基础 ICSE40010"]
D["器件可靠性原理与测试 ICSE50008"]
A --> C
B --> C
A --> D
B --> D
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classDef intermediate fill:#F0FDF4,stroke:#16A34A,color:#14532D
classDef advanced fill:#F8FAFC,stroke:#64748B,color:#1E293B
class A,B beginner
class C intermediate
class D advanced复旦校内课程（2025 培养方案）
以下课程页为占位骨架，欢迎修过的同学通过参与建设补全：
- 模拟电路测试原理 — 模拟量测试方法
- 模拟测试原理与电路设计 — IV 测试与可测性设计
- 射频微波测试基础 — S 参数、噪声系数等射频量测
- 器件可靠性原理与测试 — HCI/BTI/TDDB 等退化机制与表征
公开课程（待补充）
测试与可靠性的公开视频课程稀缺，欢迎推荐（要求：完整公开视频，附主页与直链，注明学校、教师、讲数）。